[1]王秀琴,金曾孙.电流密度对TA2 纯钛微弧氧化多孔陶瓷膜的影响[J].常州大学学报(自然科学版),2005,(02):23-26.
　WANG Xiu -qin,JIN Zeng -sun.Effects of Current Density on the Properties of Porous Ceramic Film Formed by Micro -Arc -Oxidation on TA2 Pure Titanium Substrate[J].Journal of Changzhou University(Natural Science Edition),2005,(02):23-26.
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电流密度对TA2 纯钛微弧氧化多孔陶瓷膜的影响()
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常州大学学报(自然科学版)[ISSN:2095-0411/CN:32-1822/N]

卷:
期数:
2005年02期
页码:
23-26
栏目:
出版日期:
2005-06-25

文章信息/Info

Title:
Effects of Current Density on the Properties of Porous Ceramic Film Formed by Micro -Arc -Oxidation on TA2 Pure Titanium Substrate
作者:
王秀琴1 ;  金曾孙2
1.江苏工业学院功能材料实验室, 江苏 常州 213016;2.吉林大学超硬材料国家重点实验室, 吉林长春310012
Author(s):
WANG Xiu -qin1 ;  JIN Zeng -sun2
1 .Department of Functional Materials Laborato ry , Jiang su Poly technic Universi ty , Changzhou 213016 , China ;2 .State Key Laboratory for Superhard Materials , Jilin University , Changchun 130021 , China
关键词:
微弧氧化; 阳极电流密度; 阴/ 阳极电流密度比; 陶瓷膜层的组织结构
Keywords:
micro -arc oxidition ; anodic current density j a ; microst ructure of ceramic coatings
分类号:
T B 483 ;O 484.1
文献标志码:
A
摘要:
采用恒定电流密度控制方法, 在碳酸钠-硅酸钠溶液体系中制备TA2 纯钛微弧多孔氧化陶瓷膜, 研究了阳极电流密度j a 和阴/ 阳极电流密度比j c/ j a 对陶瓷膜的厚度和相结构的影响。实验发现, 陶瓷膜的厚度随j a 和j c/ j a 的增加都存在一个峰值; 提高阳极电流密度, 陶瓷膜中的金红石相TiO2 的含量增加, 而增加阴/ 阳极电流密度比, 陶瓷膜中金红石相TiO2 的含量减少, 但有利于锐钛矿相TiO2 含量的增加。
Abstract:
The porous ceramic films on pure ti tanium substrate were obtained by Micro -Arc -Oxidat ion (MAO)method with constant current density in sodium carbonate -silicate elect rochemist ry solution .The effects of the anodic current density (j a)and the radio of cathodal to anodic (j c/ j a)current density on the film thickness and phase component w ere investig ated in detail .The experiment results indicated that there w as a peak value in the film thickness with the increase in j a and j c/ j a .The values of the relative phase composit ion of ruile TiO2 :anatase TiO2 increased with increasing j a while decreased with increasing j c/ j a .

参考文献/References:

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备注/Memo

备注/Memo:
作者简介:王秀琴(1978 -), 女, 辽宁丹东人, 硕士, 从事功能薄膜材料研究。
更新日期/Last Update: 2005-06-25